اندازه گیری ضریب شکست غیر خطی به صورت اتوماتیک

قابلیت استفاده از نمونه های غیر خطی مختلف

قابلیت انتخاب طول موج و شدت نور لیزر مورد استفاده

معرفی

در اپتیک غیر خطی ، اندازه گیری به روش Z-scan برای اندازه گیری ضریب شکست غیر خطی n2 و ضریب جذب غیر خطی، به کار برده می ‏شود. از دو روش آشکارساز بسته برای اندازه گیری ضریب شکست غیر خطی و آشکارساز باز برای اندازه گیری ضریب جذب غیر خطی استفاده می ‏شود. ضریب جذب غیر خطی می تواند بر ضریب شکست غیر خطی تاثیر گذارد بنابر این  روش آشکارساز بسته و آشکارساز باز به طور همزمان در این مجموعه اجرا شده است. این مجموعه برای شاخص دهی مواد اپتیکی شفاف نسبتا نازک (کمتر از 5 میلی متر ضخامت) طراحی شده است.

ویژگی ها

مجموعه جاروب Z مطابق شکل به اینصورت عمل می‏ کند که، یک باریکه لیزر پر شدت از میان یک عدسی با فاصله کانونی بزرگ عبور کرده و کانونی می‏ شود. نمونه مورد آزمون نازک، در میان کمره باریکه کانونی شده بوسیله یک جابجاگر موتوردار خطی ، حرکت می‏ کند. باریکه پس از کانون با استفاده از یک باریکه شکن  به دو قسمت تقسیم می ‏شود. یک قسمت به آشکارساز 1 که تمام باریکه را در بر می گیرد فرستاده می ‏شود. باقیمانده باریکه از میان یک دیافراگم عبور کرده و قسمت مرکزی آن به آشکار ساز 2 می رسد. خروجی دو آشکار ساز  به ازای جابجایی های نمونه آزمون از طریق یک واسط الکترونیکی به یک رایانه منتقل می‏شود. با نرم افزار این مجموعه، جابجاگر کنترل شده و نمودار های شدت آشکارسازهای دهانه باز و دهانه بسته قابل ترسیم است.

مشخصات

تعداد شرح ردیف
1 برد برد اپتیکی 500*1000*10 میلی متر با پایه ثابت 1
1 نرم افزار کنترل z-scan 2
2 باریکه شکن 3
1 جابجاگر خطی موتوردار ( دقت: 50 میکرون، حداکثر جابجایی: 20 سانتی متر) 4
2 آشکارساز 5
10 پایه H 6
10 نگه‏دارنده میله 50 میلی متر 7
6 نگه‏دارنده میله 100 میلی متر 8
10 میله 50 میلی متر 9
6 میله 100 میلی متر 10
4 نگه‏دارنده اپتیکی 11
1 عدسی 12
1 واسط الکترونیکی آشکارساز و رایانه 13
1 لیزر دیودی 50 میلی وات، 532 نانومتر 14
1 نگه‏دارنده نمونه 15
1 کیت پیچ 16
1 پلاریزور 17
1 نگه‏دارنده پلاریزور 18
1 نگه‏دارنده صفحه متحرک 19